HY(SL)三轮测试仪
HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中,测试轮将循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,向下的压力为8N。经过测试,检查芯片情况,芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。
电源:110-22V 50-60HZ
· 测试标准参考:Mcd
· CQM测试标准参考:P-22
· 测试方法参考:10.3.22
· CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2