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HY（IC）IC卡动态弯扭试验机
HY(IC)IC卡动态弯扭试验机
本仪器针对IC卡在国标GB/T 16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 采用*的同步带传动，非接触式光电计数，15工位同时测量大大提高的仪器的精度和使用寿命。
主要技术参数
外形尺寸：长×宽×高（670×380×220mm）
仪器重量：70kg
电压：AC220V±5%
功率：35W
测试速度：弯曲30r/min
测试周期：1~9999次
弯曲度；长边20 mm，短边10 mm
扭曲度：15°±1°双向
产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。
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公司承诺：
1.购机前，我们专门派技术人员为您设计*的流程和方案
2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装
3.整机保修一年，产品终身维护
4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用
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